電子產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)的詳細(xì)說(shuō)明：

高低溫試驗(yàn)箱是對(duì)電子產(chǎn)品做測(cè)試,依據(jù)電子產(chǎn)品本身國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，電子產(chǎn)品在低溫、高溫、條件下，其物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷電子產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

電子產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)--滿足標(biāo)準(zhǔn)：

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
?電工電子產(chǎn)品基本環(huán)試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2) 
?電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
?電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30) 
?GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
?GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
?GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
?GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》
?GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)
?GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
?GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
?GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
?GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

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